Proposta de sistema optoeletrônico de varredura espectral para análise do infravermelho pela reflexão difusa utilizando múltiplas esferas de integração

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dc.contributor.advisorFrança, José Alexandre de [Orientador]pt_BR
dc.contributor.authorMartins, Rafael Lonipt_BR
dc.contributor.bancaGranziera Junior, Franciscopt_BR
dc.contributor.bancaSilva, Newton dapt_BR
dc.coverage.spatialLondrinapt_BR
dc.date.accessioned2024-05-01T13:47:06Z
dc.date.available2024-05-01T13:47:06Z
dc.date.created2020.00pt_BR
dc.date.defesa10.02.2021pt_BR
dc.description.abstractResumo: Este trabalho apresenta um sistema optoeletrônico, baseado em reflexão difusa, para corrigir um sinal espectral da região do infravermelho próximo Um conjunto com múltiplas esferas de integração é usado para compensar o sinal de entrada e melhorar as leituras realizadas A primeira esfera separa a radiação em duas partes, um feixe é direcionado para uma segunda esfera de onde é obtido o sinal referente à amostra, e o outro é direcionado para uma terceira, que gera um sinal de referência utilizado para compensar as interferências As análises realizadas mostraram uma redução de 77% na influência da variação da temperatura e do decaimento optoeletrônico ao longo do tempo Desta forma, as interferências intrínsecas e extrínsecas dos protótipos básicos da espectroscopia no infravermelho próximo são minimizadas e seus desempenhos podem ser melhoradospt_BR
dc.description.abstractother1Abstract: This work presents an optoelectronic system, based on di_use reection, to correct a spectral signal of the near-infrared region A set with multiple integration spheres is used to compensate the input signal and improve the readings performed The _rst sphere separates the radiation in two parts, one beam is directed to a second sphere from where the signal related to the sample is obtained, and the other is directed to a third, that generates a reference signal used to compensate interferences The analyses performed showed a 77% reduction on the inuence of the temperature variation and the optoelectronics decay over time In this way, intrinsic and extrinsic interferences of basics near-infrared spectroscopy prototypes are minimized, and their performance can be improvedpt_BR
dc.description.notesDissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Universidade Estadual de Londrina, Centro de Tecnologia e Urbanismo, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapt_BR
dc.identifier.urihttps://repositorio.uel.br/handle/123456789/11997
dc.languagepor
dc.relation.coursedegreeMestradopt_BR
dc.relation.coursenameEngenharia Elétricapt_BR
dc.relation.departamentCentro de Tecnologia e Urbanismopt_BR
dc.relation.ppgnamePrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapt_BR
dc.subjectInstrumentação eletrônicapt_BR
dc.subjectEngenharia elétricapt_BR
dc.subjectEsfera integradorapt_BR
dc.subjectEngenharia elétricapt_BR
dc.subjectEspectroscopiapt_BR
dc.subjectElectronic instrumentation - Electrical engineeringpt_BR
dc.subjectIntegrating sphere - Electrical engineeringpt_BR
dc.subjectSpectroscopy - Electrical engineeringpt_BR
dc.subjectOptoelectronipt_BR
dc.titleProposta de sistema optoeletrônico de varredura espectral para análise do infravermelho pela reflexão difusa utilizando múltiplas esferas de integraçãopt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR

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