França, José Alexandre de [Orientador]Martins, Rafael Loni2024-05-012024-05-012020.00https://repositorio.uel.br/handle/123456789/11997Resumo: Este trabalho apresenta um sistema optoeletrônico, baseado em reflexão difusa, para corrigir um sinal espectral da região do infravermelho próximo Um conjunto com múltiplas esferas de integração é usado para compensar o sinal de entrada e melhorar as leituras realizadas A primeira esfera separa a radiação em duas partes, um feixe é direcionado para uma segunda esfera de onde é obtido o sinal referente à amostra, e o outro é direcionado para uma terceira, que gera um sinal de referência utilizado para compensar as interferências As análises realizadas mostraram uma redução de 77% na influência da variação da temperatura e do decaimento optoeletrônico ao longo do tempo Desta forma, as interferências intrínsecas e extrínsecas dos protótipos básicos da espectroscopia no infravermelho próximo são minimizadas e seus desempenhos podem ser melhoradosInstrumentação eletrônicaEngenharia elétricaEsfera integradoraEngenharia elétricaEspectroscopiaElectronic instrumentation - Electrical engineeringIntegrating sphere - Electrical engineeringSpectroscopy - Electrical engineeringOptoelectroniProposta de sistema optoeletrônico de varredura espectral para análise do infravermelho pela reflexão difusa utilizando múltiplas esferas de integraçãoDissertação